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薄膜測厚儀儀器特性

更新時間：2022-11-16

　　薄膜測厚儀專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

　　薄膜測厚儀根據(jù)其測量方式的不同，可分為：

　　接觸式薄膜測厚儀：點接觸式，面接觸式。

　　非接觸式薄膜測厚儀：射線，渦流，超聲波，紅外等。

　　薄膜測厚儀儀器特性：

　　1、配備微型打印機，快速打印每次測量結(jié)果及統(tǒng)計最大值、最小值、平均值。

　　2、標準量塊標定,方便用戶快速標定設(shè)備。

　　3、面板采用特鋁材質(zhì)，金屬按鍵，操作靈敏、不易損壞。

　　4、核心控制部件采用意法公司32位多功能主板。

　　5、核心導(dǎo)向機構(gòu)選用進口精密導(dǎo)軌。

　　6、儀器包含中英文界面，方便外籍客戶的考察。

　　7、儀器表面采用靜電噴涂工藝處理。

　　8、儀器配有水平檢測裝置。

　　9、儀器設(shè)計為臺式機、運行平穩(wěn)、噪音低。

　　10、儀器自動保存最多 500組測試結(jié)果，隨時查看并打印。

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